ASTM E 854-2003 反应堆监测用固态径迹记录仪(SSTR)监视器的应用和分析的标准试验方法,E706(IIIB)

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 14:26:53   浏览:8860   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardTestMethodforApplicationandAnalysisofSolidStateTrackRecorder(SSTR)MonitorsforReactorSurveillance,E706(IIIB)
【原文标准名称】:反应堆监测用固态径迹记录仪(SSTR)监视器的应用和分析的标准试验方法,E706(IIIB)
【标准号】:ASTME854-2003
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:反应堆;分析;控制仪器;核能;监督(认可);使用;监视器;核技术
【英文主题词】:applications;nuclearenergy;nucleartechnology;surveillance(approval);monitors;reactors;analysis;controlinstruments
【摘要】:
【中国标准分类号】:F82
【国际标准分类号】:27_120_20
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Electrophoreticseparationofproteinorofproteincontainingsubstancesinbodyfluids-Generalconcepts,units
【原文标准名称】:体液中蛋白或含蛋白物质的电泳分离.一般概念.装置
【标准号】:DIN58938T.1-1981
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Timedependentdielectricbreakdown(TDDB)testforgatedielectricfilms
【原文标准名称】:半导体装置.依赖时间的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:BSEN62374-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-10-31
【实施或试行日期】:2008-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:击穿;检验设备;组件;定义;介质;电气工程;电子设备及元件;外壳;故障;大门;热室;寿命;测量技术;半导体器件;应力;测试;测试装置;依赖时间的;电压;电压应力
【英文主题词】:Breakdown;Checkingequipment;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Life(durability);Measuringtechniques;Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语